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氯化氢（HCl）气体浓度分析仪

以 ppt 级灵敏度实时监测 HCl，快速连续分析且无需现场校准，适用于半导体晶圆厂 AMC 监测。

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氟化氢（HF）气体浓度分析仪

以 ppt 级灵敏度实时监测 HF，响应快速且无需现场校准，适用于半导体晶圆厂 AMC 监测。

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NH₃、HCl、HF 气体浓度分析仪

以 ppt 级灵敏度实时监测 NH₃、HCl 和 HF，快速响应污染事件，助力保护半导体生产良率。

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SAM-C

采用高流量多点采样并支持多达 4 台分析仪，持续监测 AMC，实现精准的半导体污染检测。

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SAM-S

支持多达 16 个采样端口和 2 台分析仪，快速多点监测 AMC，实现精准的半导体污染检测。

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SLiM 100

以 1 ppb 灵敏度实时监测光刻工艺中的 VOC，保护半导体设备和工艺，助力提升生产良率。

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A0217 连续水样采集器

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A0311 16 路气体进样系统用于多路采样应用

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A0213 IM-CRDS 分析仪

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A0311-S 快速多支路气体进样器适用于 HF，HCl，NH3，H2S，和 H2O2 的 SilcoNert 版

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A0701 + A0702 封闭式系统测量套件

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G2204 甲烷 ( CH4 ) / 硫化氢 ( H2S ) 高精度气体浓度分析仪

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G2131-i 高精度二氧化碳 ( CO2 ) 碳同位素及甲烷 ( CH4 ) 气体浓度分析仪

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A0101 标样传输模块

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A0214 微燃烧模块™ (MCM): 消除有机干扰

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